Occupational exposure measurements in the vicinity of MRI scanners [abstract]
Kännälä S; Toivo T; Alanko T; Jokela K (2009)
Tätä artikkelia/julkaisua ei ole tallennettu Julkariin. Julkaisun tiedoissa voi kuitenkin olla linkki toisaalle tallennettuun artikkeliin/julkaisuun.
Kännälä S
Toivo T
Alanko T
Jokela K
2009
In: Proceedings of BioEM 2009 – a joint meeting of BEMS and EBEA; 2009 Davos, Switzerland. P-174.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2014120249535
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2014120249535
Kokoelmat
- STUKin omat sarjajulkaisut [2320]