xmlui.ArtifactBrowser.ConfigurableBrowse.title.metadata.authorSäteilyturvakeskus STUK"Ihantola"

Viitteet 1-1 / 1

Direct Alpha Analysis for Forensic Samples (DAAFS): Techniques, applications, and results

Hoffman I; Ungar K; Bean M; Pöllänen R; Ihantola; S; Toivonen H; Karhunen T; Pelikan A (2011)

Säteilyturvakeskus STUK - Selaus tekijän mukaan "Ihantola"